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优纳平板电子产品检测系统亮相科博会

2012年05月23日 07:52  来源:中国数字视听网  字体【   

【中国数字视听网讯】以“凝聚创新智慧,做强实体经济”为主题的第十五届科博会将于5月23日在北京隆重开幕。 此次科博会上,优纳为更好的突出自主创新主题,隆重推出了全球首台平板电子产品检测系统--KIS 300。KIS系列产品的诞生开辟了平板电子产品检测新纪元,填补了国内外平板产品检测的技术空白。KIS 300无疑是中关村自主创新成果展区的耀眼明星。

优纳平板电子产品检测系统亮相科博会

优纳平板电子产品检测系统亮相科博会

KIS系列平板电子产品检测系统是优纳2011年底最新推出的国际领先的平板电子产品外观检测设备。KIS采用优纳自主研发的专利技术(专利号:201110238697.2),通过独特的视觉系统及高效的光机电一体化控制,实现平板电子产品外观不良和装配不良的全自动在线检测。检测范围也极为广泛,包括电纸书、MP3、MP4、MP5、平板电脑、手机等所有平板类电子产品。

与传统的人工检测方式相比,KIS系列更具有节省人工成本、大幅提高产品质量等优势。通过以上表格可以看出,使用了KIS设备的生产线检测能力整整提高了5760个!在节省人工成本的同时,对产品质量也有大幅提高,误检率由原来人工的13‰降低到了自动化的0.8‰。

KIS系列平板电子产品检测系统对我国快速实现加工工业自动化也具有划时代的意义。目前该系列产品已成功应用于各大加工工厂生产线,24小时不间断的为平板电子产品把好质量关。

(编辑:Karl)

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